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離子清潔度測(cè)試 專業(yè)元器件失效分析：離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度，由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留，會(huì)影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見(jiàn)的離子污染導(dǎo)致的問(wèn)題分別是表面腐蝕和結(jié)晶生長(zhǎng)，最終引起了短路，過(guò)多的電流通過(guò)連接器，造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計(jì)量能提供離子清潔度檢測(cè)。

錫須現(xiàn)象檢測(cè) 材料裝備失效分析：錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(zhǎng)出來(lái)的一種細(xì)長(zhǎng)的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計(jì)量擁有完整的錫須檢查試驗(yàn)設(shè)備，經(jīng)驗(yàn)豐富的分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供錫須檢查測(cè)試服務(wù)。

超超聲波顯微鏡 (SAT)C-SAM,材料無(wú)損檢測(cè)：聲波顯微鏡 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的簡(jiǎn)稱，又稱為C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此檢測(cè)為應(yīng)用超聲波與不同密度材料的反射速率及能量不同的特性來(lái)進(jìn)行分析。

廣電計(jì)量可以提供一站式國(guó)產(chǎn)化替代驗(yàn)證服務(wù)解決方案專業(yè)服務(wù)，針對(duì)元器件用戶具體的應(yīng)用環(huán)境和條件等需求調(diào)研和分析，結(jié)合現(xiàn)實(shí)和潛在應(yīng)用要求，進(jìn)行驗(yàn)證方案和大綱制定，驗(yàn)證評(píng)價(jià)，驗(yàn)證報(bào)告和驗(yàn)證指南編制等全流程服務(wù)。

廣電計(jì)量半導(dǎo)體功率器件質(zhì)量提升,失效分析解決方案經(jīng)過(guò)在功率半導(dǎo)體器件方面數(shù)年積累，擁有研究進(jìn)展,研究設(shè)備，為客戶提供半導(dǎo)體功率器件質(zhì)量提升服務(wù)。

第三代半導(dǎo)體作為一種理想的半導(dǎo)體材料，在新一代信息技術(shù)、新基建等領(lǐng)域得到了愈發(fā)廣泛的應(yīng)用。對(duì)于國(guó)內(nèi)企業(yè)而言，要獲取市場(chǎng)信任，檢測(cè)是證明第三代半導(dǎo)體質(zhì)量與可靠性的可行手段，同時(shí)也是提高其質(zhì)量可靠性的重要保障。廣電計(jì)量特意推出第三代半導(dǎo)體可靠性驗(yàn)證與評(píng)價(jià)服務(wù)，助力企業(yè)產(chǎn)品高效發(fā)展。

廣電計(jì)量提供半導(dǎo)體材料微結(jié)構(gòu)分析與評(píng)價(jià)服務(wù),提供半導(dǎo)體材料元素成分分析,結(jié)構(gòu)分析,微觀形貌分析測(cè)試服務(wù)，CNAS資質(zhì)認(rèn)可,幫助客戶全面了解半導(dǎo)體材料理化特性.

雙束掃描電子顯微鏡（DB-FIB）是將聚焦離子束和掃描電子束集成在一臺(tái)顯微鏡上，再加裝氣體注入系統(tǒng)（GIS）和納米機(jī)械手等配件，從而實(shí)現(xiàn)刻蝕、材料沉積、微納加工等許多功能的儀器。廣電計(jì)量能提供一站式雙束掃描電子顯微鏡檢測(cè),材料微觀分析服務(wù)。